B型剩余电流断路器测试仪（以下简称测试仪）是为剩余电流断路器的性能测试而研制，它是检测B型剩余电流断路器脱扣电流和分断时间的关键仪器。
测试仪适用于电子式和电磁式的剩余电流断路器。1P+N、2P、、+N、4P的断路器均能测试，输出大剩余电流为2A。
系统显示和操作采用流行的工业级触摸屏，操作简单；
接地方式：可靠接地
测试仪输出的电流值为真有效值，测试不确定度小于1%；
（2）50Hz交流剩余电流范围：0~2A；
选项角为0°的脉动直流剩余电流，电流的范围为0~800mA；
选项角为135°的直流剩余电流，电流的范围为0~200mA；
（5）叠加平滑直流的范围为5~100mA；
θjA是相对于环境温度的结点热阻抗，基于印刷电路板(摄氏度/W)的封装，通常是在150℃的典型结温(有些部件的结温可能较低，需在数据表上确认)条件下计算出来的。所需θjA应为如下方程式：≤(结温-工作温度)/Pd(等式2)。滤掉封装中的器件，这样θjA比满足此初始结温要求的上述计算结果要低。在结温时操作会影响其可靠性。视电路板、气流、环境和附近的其他热源而定，留一定的余量始终是一个很好的设计实践。从上述原理可知，谐波源负载是否会对同一个电网上的电子设备造成干扰，主要取决于电子设备的电源线输入端电压谐波畸变的大小，以及电子设备供电电源的抗干扰能力。谐波源负载产生同样的谐波电流的情况下，与变压器之间的距离越远，则对应的电网阻抗越大，引起的电压畸变就越大，越容易对同一个电网上的电子设备形成干扰。而不同的电子设备抗畸变电压的能力也有优劣之分，在同一供电网络，某台电子设备会受干扰，并不意味着所有的电子设备在这个位置都会受干扰。一般来说，时钟频率跑的越快，则CPU每秒所能完成的运算次数就越多，性能自然更好，随着时钟频率的增加，CPU就会变得越来越热，这是CPU内部CMOS管耗散功率加大的体现，过高的温度会影响系统的运行，有必要采取措施来“监控”CPU的温度，把它限制在一定温度范围内，以确保CPU的可靠运行。由于二极管制造工艺的特殊性，我们可以利用二极管的伏安特性来测量CPU的温度，它的伏安特性如下图：众所周知，将PN结用外壳封装起来，并加上电极引线就构成了半导体二极管，简称为二极管。