HN11F 接触器同步测试仪 接线图例 华能电气 目前常用的分析方法是使用双狄拉克模型。该模型假定概率密度函数两侧的尾部是服从高斯分布的，高斯分布很容易模拟，并且可以向下推算出较低的概率分布。总抖动是RJ和DJ概率密度函数的卷积。业界对于高斯分布能否地描绘随机抖动直方图的尾部还存在争议。真正的随机抖动是遵守高斯分布的，但实际的测量中多个低幅度的DJ会卷积到一个分布函数，这导致测量出的概率密度分布的中心接近高斯分布，而尾部却夹杂了一些DJ。
HN11F接触器三相同步测试仪
HN11B接触器同步测试仪测试高压开关合闸、分闸及接触器吸合、释放时间、弹跳、同期等时间特性、接触器机械寿命操作试验，既适应于合、分操作线圈各自立（带闭锁机构）的高压开关（或双线圈立分、合闸自闭锁的接触器及空气开关）特性测试，亦适用于分、合仅有单线圈（电保持，不带闭锁机构）的接触器特性测试。顶开式结构，体积小、重量轻、功能强、操作简便。
HN11B接触器同步测试仪技术指标：
1分类
环境组别：GB6587.1-86《电子测量仪器环境试验总纲》中的Ⅲ组仪器（野外环境使用）。
2结构形式与尺寸
铁主机箱：330mm;218mm;150mm，重量6kg
ABS机箱：415mm;319mm;168mm，重量6.7kg
3使用电源
工作电源：电压AC220V±10%，频率50Hz±10%
控制电源：外接交流AC0～380，直流DC0～250
输出控制：输出电压可控制输出。
4使用环境
环境温度：-20℃~50
相对湿度：80%
5安全性能
绝缘电阻：＞2MΩ
漏电流：＜3.5mA
介电强度：电源进线对机壳能承受1500V(50Hz有效值)1分钟耐压。
6时间测试
吸合（释放）时间 三相不同期时间 时间单位
显示范围： 0~999 999 ms
误差： ≤1 ≤1 ms
打印数据： 0~999.9 999.9 ms
分辨率： ≤0.1 ≤0.1 ms
7机械寿命操作
操作周期：2S
次数：预置999次，0~999次可随时终止
HN11B接触器同步测试仪基本操作：
1机械寿命操作试验：（适于单线圈电保持接触器）
操动控制开关置电保持控制回路：合接吸合（释放）线圈，负接线圈公共端
连接接地线，接入HN11B接触器同步测试仪主机电源；外接操作电源接入直流或交流控制电源
HN11B接触器同步测试仪开机后显示synready准备操作，按计数键，HN11B接触器同步测试仪自动发送吸合、释放操作（周期2S）并自动从0计数显示，直至999次后自动停止并退出，再按计数一次，HN11B接触器同步测试仪自动停止并退出。
2接触器（电保持单线圈）同步时间测试：
时间断口：A（B、C）相：接A相断口（静触头）；共端：接三相公共端（动触头）。
操动控制开关置电保持；控制回路：合接吸合（释放）线圈；负接线圈公共端
连接接地线，接入HN11B接触器同步测试仪主机电源，外接操作电源接入直流或交流控制电源。
HN11B接触器同步测试仪开机后显示synready准备操作，此时按吸合键HN11B接触器同步测试仪合送电，接触器动作，显示测试值，按打印键打印当前数据；释放键HN11B接触器同步测试仪合断电，接触器返回，显示测试值，按打印键打印当前数据。
3高压开关（自闭锁双线圈接触器）同步时间测试：
时间断口：A（B、C）相：接A相断口（静触头）；共端：接三相公共端（动触头）。
操动控制开关置自闭锁；控制回路分接分闸线圈（释放线圈），合接合闸线圈（吸合线圈），负接线圈公共端。
HN11B接触器同步测试仪开机后显示synready准备操作，此时按合闸（吸合）键HN11B接触器同步测试仪合送电，接触器动作，显示测试值，按打印键打印当前数据。分闸（释放）键HN11B接触器同步测试仪分送电，接触器动作，显示测试值，按打印键打印当前数据。
4非电磁线圈型接触器同期时间测试：
操动控制开关置自闭锁
连接接地线，接入HN11B接触器同步测试仪主机电源。
HN11B接触器同步测试仪开机后显示synready准备操作，此时按下合闸（吸合）键，待接触器合闸后显示测试值，按打印键打印当前数据。分闸（释放）键，待接触器分闸后显示测试值，按打印键打印当前数据。
只要一个简单的内部AND或者OR门控就足以避免使用外部组件，或是改善CPU性能。所有四种方法都支持用定制逻辑门控输入和输出信号。这类方法可借助时钟门控输入，以便使用计数器测量外部时钟频率。这四类逻辑模块均支持的一个简单例子是一种调制UART输出，使之用于IR通信的方法。在此例中，不仅有所示的内部AND门控，还能够将来自时钟或计数器的信号及UARTTX输出路由到AND门控。简单调制的UART[pagebreak]AtmelXMEGA定制逻辑（XCL）AtmelXCL模块内置两个LUT（查找表）模块，配套两个8位定时器/计数器模块。